该设备专门用于太阳能单晶硅和多晶硅单体电池片的分选筛选
通过模拟太阳光谱光源,对电池片的相关参数进行测量,根据测量结果将电池片进行分类
自动校正设置,输入补偿参数,进行自动/手动温度补偿和光强度补偿,具备自动测温与温度修正功能
基于Windows的操作界面,测试软件人性化设计,记录并显示测试曲线(I-V曲线、P曲线)和测试参数(Voc、Isc、Pm、Im、Vm、FF、EFF),每片测试的序列号自动生成并保存到文件夹。
技术参数:
型号规格:SCT-A/SCT-B
辐照不均匀度:≤±2%(SCT-A) ≤±3%(SCT-B)
辐照不稳定度:≤±2%(SCT-A) ≤±3%(SCT-B)
测试结果一致性:≤±0.5%(SCT-A) ≤±1%(SCT-B)
电性能测试误差:≤±1%(SCT-A) ≤±2%(SCT-B)
光谱范围:符合IEC60904-9要求(A级)
辐照强度:100mW/ cm2(调节范围70~120mW/cm2)
单次闪光时间:10ms
有效测试面积:200mm×200mm
有效测试范围:0.1W~5W
测量电压:1V(1mV)
测量电流:10A(分辨率1mA)
测试参数:Isc、Voc、Pmax、Vm、Im、FF、EFF、Temp
数据采集:含8000个数据采集点